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產(chǎn)品展示-
- 90Plus PALSZeta電位及粒度分析儀
90Plus PALS高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀是目前*能夠測量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器，它采用的是真正的硬件PALS（相位分析光散射）技術(shù)，比其它測量Zeta電位的技術(shù)靈敏度高1000倍！
- 型號：90Plus PALS
- 更新日期：2025-11-22 ￥面議
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- Bettersize2600國產(chǎn)激光粒度儀
國產(chǎn)激光粒度儀采用了樣品折射率測量技術(shù)、自動對中技術(shù)、防干燒超聲波分散技術(shù)、SOP技術(shù)、大功率偏振光技術(shù)等，進一步提升了它的重復(fù)性、準(zhǔn)確性和分辨力。
- 型號：Bettersize2600
- 更新日期：2025-11-22 ￥面議
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- BI-DCP圓盤式離心/沉降粒度儀
BI-DCP圓盤式離心/沉降粒度儀是基于經(jīng)典的離心/沉降原理，通過高精度的數(shù)字式電機控制，是迄今為止具有統(tǒng)計意義的沉降粒度儀粒度儀中分辨率、準(zhǔn)確率Z高的測量儀器。廣泛應(yīng)用于膠乳、碳黑、陶瓷和金屬粉末等行業(yè)的質(zhì)量控制方面。
- 型號：BI-DCP
- 更新日期：2026-04-21 ￥面議
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- BI-200SM廣角動靜態(tài)激光光散射儀
廣角動靜態(tài)激光光散射儀采用TurboCorr數(shù)字相關(guān)器，通過動態(tài)光散射的方法可以測量小至1nm的納米顆粒分布情況，通過靜態(tài)光散射的方法可測量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲線、分子量、均方根回旋半徑及第二維里系數(shù)。多角度激光光散射儀經(jīng)國內(nèi)外眾多實驗室使用，證明BI-200SM是研究聚合物、膠束、微乳液以及復(fù)雜溶液等體系的理想測試儀器。
- 型號：BI-200SM
- 更新日期：2025-11-22 ￥面議
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- BI-MwA多角度激光光散射儀（分子量測定）
多角度激光光散射儀（分子量測定） 美國布魯克海文儀器公司一直被*為光散射領(lǐng)域的，它的每一項技術(shù)都代表著世界Z高水平。基于多年光散射技術(shù)和經(jīng)驗開發(fā)研制的BI-MwA多角度激光光散射（分子量測定）儀對光散射儀器進行了開創(chuàng)性的革新，解決了分子量測定中存在的諸多問題，使得分子量表征更加客觀與可靠。
- 型號：BI-MwA
- 更新日期：2025-11-22 ￥面議
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- OMNIOmni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀
Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°，173°、90三個散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術(shù)*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的測量。
- 型號：OMNI
- 更新日期：2025-11-27 ￥面議
